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동향
저자
도구
DF
Author
David J. Friedman
AT&T (United States)
1989
ORCID
0000-0002-1295-1562
정보 수정·삭제 요청
1
논문
47
피인용 합
1989
첫 논문
1989
최근 논문
01
저널·주제·방법
저널
MS
1
주제
시뮬레이션 기법
1
02
소속·공저
소속
AT&T (United States)
1989 · 1편
불러오는 중…
03
논문
1편
The Impact of Clustered Defect Distributions in IC Fabrication
ms
· 1989 · 인용 47 · Advanced Statistical Process Monitoring